高低溫測試箱產品具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對于電工,電子產品,以及其元器件及其它材料在高溫,低溫綜合環(huán)境下運輸,使用時的適應性試驗。用于產品設計,改進,鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。
型號:GT-GDW系列
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更新時間:2024-05-31
在線留言高低溫測試箱是用來確定產品在高溫或低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應性的方法。試驗的嚴苛程度取決于高溫或低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。高低溫測試英文名稱High and low temperature test
高低溫試驗是高溫試驗和低溫試驗的的簡稱,試驗目的是評價高低溫條件對裝備在存儲和工作期間的性能影響。高低溫試驗的試驗條件、試驗實施、試驗步驟在GJB 150.3A一2009《裝備試驗室環(huán)境試驗方法高溫試驗》與GJB 150.4A—2009《裝備試驗室環(huán)境試驗方法低溫試驗》中都有詳細的規(guī)定。
高低溫測試箱設備參數(shù)
1。試驗設備
高溫試驗一般是將產品置于恒溫箱或恒溫室內進行試驗。介質的溫度用溫度計在不同位置測定,取其算術平均值。但要求箱內溫度盡可能均勻,通過熱空氣流動加熱產品,不應使試驗樣品靠近熱源。為減少輻射影響,試驗箱的壁溫不應高于環(huán)境溫度3%。
低溫試驗一般在低溫箱(室)內進行,其溫度一般靠人工制冷的方法獲得。在低溫箱的有效工作空間內,用強迫空氣循環(huán)來保持低溫條件的均勻性。
2。試驗參數(shù)
按地區(qū)和使用場合不同,GB2423·1一81和GB2423·2—81分別規(guī)定了不同溫度等級的優(yōu)先數(shù)值。
低溫環(huán)境溫度:一65℃,一55"C,一45"C,一40℃,一30℃,一25℃,一15℃,一10℃,一5℃,0℃,+5℃;
高溫環(huán)境溫度:+200℃,+17S℃,+155℃,+125℃,+100℃,+8S℃,+70℃,+65℃,+60℃,+55℃,+50℃,+45℃,+40℃,+3S℃,+30℃。
溫度的允許偏差范圍均為±2℃。
在試驗樣品溫度達到穩(wěn)定后,高、低溫條件試驗的持續(xù)時間根據(jù)需要從下列數(shù)據(jù)中選取:2、16、72、95(h)
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